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| 低电压检测IC(复位IC) | |||||
| 型号 | 输入耐压 | 检测电压精度 | 输出形式 | 工作电流 | 封装 |
| CXDR7517 | 6.5V | 2% | CMOS | 1.8uA | SOT-25 |
| CXDR7518 | 1.5-8V | 2% | CMOS/N沟道反相 | 4uA | SOT-25 |
| CXDR7516C | 12V | 2% | CMOS/N沟道 | 1.1uA | SOT-23 |
| CXDR7524 | 6V | 2% | CMOS/高有效和低有效/带手动复位 | 52uA | SOP8 |
| CXDR7523L | 6V | 2% | CMOS/高有效/带手动复位/带看门狗 | 52uA | SOP8 |
| CXDR7521 | 6V | 1% | N沟道/低有效 | 1.0uA | SOT-23 |
| CXDR7519 | 6V | 1% | CMOS/低有效 | 1.0uA | SOT-23 |
| CXDR7520 | 6V | 2% | CMOS/低有效 | 8.0uA | SOT-23 |
| CXDR7522 | 6V | 2% | CMOS/低有效/带手动复位 | 8.0uA | SOT-143 |
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