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全自动探针台
发表时间:2025-11-08浏览次数:174
全自动探针台
 

 

一,概述

        全自动探针台是我司自主研发设计制造的一款设备,主要对晶圆制造中的晶圆CP测试。本设备采用针接触式测试,可提供多个可调测试针及探针座;测试机与探针台直接链接,使晶圆上的晶粒依次与探针接触,把测试机上输出的信号精准地输送至晶圆表面,快速高效的完成,对芯片进行各种电性及光效参数测试,自动完成筛选芯片的生产良率和效率,进而助力芯片后续的生产使用提质增效。

二,特点

2.1、高效、高精度测试,运行速度超200mm/s;DdZ嘉泰姆
2.2、支持单点和连续测试;DdZ嘉泰姆
2.3、测试箱与机台直连自动控制,快速切换测试针卡;DdZ嘉泰姆
2.4、全自动控制系统,测试软件简洁高效。

三,适用产品:

4/6/8/12″晶圆自动检测

四,技术参数

产品名称 全自动探台针
产品型号 P8/P12
晶圆规格参数 6 / 8 / 12英寸 .厚度300-1000㎛
Die Size 300-76000㎛
设备行程 X:0-350mm;Y:0-800mm,Z:0-70mm
设备精度/分辨率 X Y Z ≤2㎛   /   0.1㎛
XYZ轴最大运行速度 260mm/s
Theta参数 范围:±5°   /   精度0.001°
机台尺寸 2*1.8*1.8m(长宽高)
机台重量 2600kg
 

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