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CXDR7518微处理器复位电路存储器电池备份电路上电复位电路供电失效检测CMOS技术开发的高精度低功耗小封装可编程电压检测芯片检测电压在小温度漂移的情况下保持极高的精度
| 产品型号： | CXDR7518 |
| 产品类型： | 电压检测/复位IC |
| 产品系列： | 电压检测与复位IC |
| 产品状态： | 量产 |
| 浏览次数： | 51 次 |
产品简介
CXDR7518系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、小封装可编程电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain输出。
技术参数
| 输入电压范围 (VIN) | V ~ 1.5-8VV |
|---|---|
| 输出电压 (VOUT) | 4.65VV |
| 输出电流 (IOUT) | 10mAA |
| 工作频率 | 92KHzHz |
| 转换效率 | 高电平和低电平% |
| 封装类型 | SOT-25 |
| Detection voltage | 1.5-8V |
| Detection accuracy | ±1% |
| Reset delay | 200ms(Typ.) |
| Output type | 电压检测与复位IC |
| Detection direction | 上升沿/下降沿 |
| Temperature range | -40℃~125℃ |
| Features | CMOS/N沟道反相 |
| Application | MCU复位/电压监控 |
| Power consumption | 4uA |
| 检测阈值 | 2.63V |
| 复位电平 | 高有效和低有效 |
产品详细介绍
目录
产品概述 返回TOP
CXDR7518系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、小封装可编程电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain输出。
产品特点 返回TOP
高精度：±1%
低功耗：4μA（Vin=3 V）
工作电压范围：0.7V~8.0V
检测电压温度特性：±100ppm(typ.)
输出配置：N-channel open drain 和 CMOS
应用范围 返回TOP
微处理器复位电路
存储器电池备份电路
上电复位电路
供电失效检测
系统电池寿命和充电电压监视。
窗比较器
波形锐化电路
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| 低电压检测IC(复位IC) | |||||
| 型号 | 输入耐压 | 检测电压精度 | 输出形式 | 工作电流 | 封装 |
| CXDR7517 | 6.5V | 2% | CMOS | 1.8uA | SOT-25 |
| CXDR7518 | 1.5-8V | 2% | CMOS/N沟道反相 | 4uA | SOT-25 |
| CXDR7516C | 12V | 2% | CMOS/N沟道 | 1.1uA | SOT-23 |
| CXDR7524 | 6V | 2% | CMOS/高有效和低有效/带手动复位 | 52uA | SOP8 |
| CXDR7523L | 6V | 2% | CMOS/高有效/带手动复位/带看门狗 | 52uA | SOP8 |
| CXDR7521 | 6V | 1% | N沟道/低有效 | 1.0uA | SOT-23 |
| CXDR7519 | 6V | 1% | CMOS/低有效 | 1.0uA | SOT-23 |
| CXDR7520 | 6V | 2% | CMOS/低有效 | 8.0uA | SOT-23 |
| CXDR7522 | 6V | 2% | CMOS/低有效/带手动复位 | 8.0uA | SOT-143 |
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