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CXDR7521 CXDR7519 CXDR7520电路是用来监测电源电池电压的微处理器复位电路CMOS漏极开路输出对短时间电源突降的过滤功能
| 产品型号： | CXDR7521 |
| 产品类型： | 电压检测/复位IC |
| 产品系列： | 电压检测与复位IC |
| 产品状态： | 量产 |
| 浏览次数： | 48 次 |
产品简介
CXDR7521 CXDR7519 CXDR7520电路是用来监测电源电
压或电池电 压的微处理器复位电路。本系列电路不需要外围器件，
从而提高了系统的可靠性，降低了系统的成本。
本系列电路在被监测的电源电压低于预先设置的复位阈 值时，
输出有效的复位信号；当电源电压上升到复位阈值以上时，在至少
140毫秒的时间内复位信号还将维 持 有效。CXDR7521提供漏极开
路复位输出，CXDR7519 CXDR7520提供CMOS复位输出。
CXDR7521的漏极开路输出需要一个上拉电阻，此电阻可以被连接
到VCC或VCC以外的其 它电源。CXDR7521/CXDR7519的复位输
出为低有效，CXDR7520的复 位输出为 高有效。在设计上保证短
时间的电源突降不 会影响复位 输出。在整个温度范围内，当电源
电压低至 1.15V 时仍能 保证可靠输出。
压或电池电 压的微处理器复位电路。本系列电路不需要外围器件，
从而提高了系统的可靠性，降低了系统的成本。
本系列电路在被监测的电源电压低于预先设置的复位阈 值时，
输出有效的复位信号；当电源电压上升到复位阈值以上时，在至少
140毫秒的时间内复位信号还将维 持 有效。CXDR7521提供漏极开
路复位输出，CXDR7519 CXDR7520提供CMOS复位输出。
CXDR7521的漏极开路输出需要一个上拉电阻，此电阻可以被连接
到VCC或VCC以外的其 它电源。CXDR7521/CXDR7519的复位输
出为低有效，CXDR7520的复 位输出为 高有效。在设计上保证短
时间的电源突降不 会影响复位 输出。在整个温度范围内，当电源
电压低至 1.15V 时仍能 保证可靠输出。
技术参数
| 输入电压范围 (VIN) | V ~ 6VV |
|---|---|
| 输出电压 (VOUT) | 4.65VV |
| 输出电流 (IOUT) | 10mAA |
| 工作频率 | 92KHzHz |
| 转换效率 | 高电平和低电平% |
| 封装类型 | SOT-23 |
| Detection voltage | 6V |
| Detection accuracy | ±1% |
| Reset delay | 200ms(Typ.) |
| Output type | 电压检测与复位IC |
| Detection direction | 上升沿/下降沿 |
| Temperature range | -40℃~125℃ |
| Features | N沟道/低有效 |
| Application | MCU复位/电压监控 |
| Power consumption | 1.0uA |
| 检测阈值 | 4.4V |
| 复位电平 | 低有效 |
产品详细介绍
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产品概述 返回TOP
CXDR7521 CXDR7519 CXDR7520电路是用来监测电源电
压或电池电 压的微处理器复位电路。本系列电路不需要外围器件，
从而提高了系统的可靠性，降低了系统的成本。
本系列电路在被监测的电源电压低于预先设置的复位阈 值时，
输出有效的复位信号；当电源电压上升到复位阈值以上时，在至少
140毫秒的时间内复位信号还将维 持 有效。CXDR7521提供漏极开
路复位输出，CXDR7519 CXDR7520提供CMOS复位输出。
CXDR7521的漏极开路输出需要一个上拉电阻，此电阻可以被连接
到VCC或VCC以外的其 它电源。CXDR7521/CXDR7519的复位输
出为低有效，CXDR7520的复 位输出为 高有效。在设计上保证短
时间的电源突降不 会影响复位 输出。在整个温度范围内，当电源
电压低至 1.15V 时仍能 保证可靠输出。
产品特点 返回TOP
精确的复位阈值：±2.5%
复位阈值从 2.1V 到 5.0V，
每 0.1V 一档 提供两种复位输出
漏极开路输出 (CXDR7521)
CMOS 输出 (CXDR7519 CXDR7520)
最小 140ms 的复位脉冲宽度
低工作电流：3.3V 时典型值 8μA
复位信号在电源电压低至 1.15V 时仍能维持可靠输出
对短时间电源突降的过滤功能
工作温度范围：－40°C to +85°C
采用 SOT23 封装
应用范围 返回TOP
计算机
微控制器
智能仪表
便携式或电池供电的设备
技术规格书（产品PDF) 返回TOP
需要详细的PDF规格书请扫一扫微信联系我们，还可以获得免费样品以及技术支持！
产品封装图 返回TOP
电路原理图 返回TOP
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| 低电压检测IC(复位IC) | |||||
| 型号 | 输入耐压 | 检测电压精度 | 输出形式 | 工作电流 | 封装 |
| CXDR7517 | 6.5V | 2% | CMOS | 1.8uA | SOT-25 |
| CXDR7518 | 1.5-8V | 2% | CMOS/N沟道反相 | 4uA | SOT-25 |
| CXDR7516C | 12V | 2% | CMOS/N沟道 | 1.1uA | SOT-23 |
| CXDR7524 | 6V | 2% | CMOS/高有效和低有效/带手动复位 | 52uA | SOP8 |
| CXDR7523L | 6V | 2% | CMOS/高有效/带手动复位/带看门狗 | 52uA | SOP8 |
| CXDR7521 | 6V | 1% | N沟道/低有效 | 1.0uA | SOT-23 |
| CXDR7519 | 6V | 1% | CMOS/低有效 | 1.0uA | SOT-23 |
| CXDR7520 | 6V | 2% | CMOS/低有效 | 8.0uA | SOT-23 |
| CXDR7522 | 6V | 2% | CMOS/低有效/带手动复位 | 8.0uA | SOT-143 |
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