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CXDR7528C微处理器复位电路存储器电池备份电路上电复位电路供电失效检测系统电池寿命和充电电压监视CMOS技术开发的高精度低功耗小封装电压检测芯片
| 产品型号： | CXDR7528C |
| 产品类型： | 电压检测/复位IC |
| 产品系列： | 电压检测与复位IC |
| 产品状态： | 量产 |
| 浏览次数： | 50 次 |
产品简介
CXDR7528C系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、 小封装电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持 极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain 输出
技术参数
| 输入电压范围 (VIN) | V ~ 0.7-7.0VV |
|---|---|
| 输出电压 (VOUT) | 4.65VV |
| 输出电流 (IOUT) | 10mAA |
| 工作频率 | 92KHzHz |
| 转换效率 | 高电平和低电平% |
| 封装类型 | SOT-23-3 |
| Detection voltage | 0.7-7.0V |
| Detection accuracy | ±1% |
| Reset delay | 200ms(Typ.) |
| Output type | 电压检测与复位IC |
| Detection direction | 上升沿/下降沿 |
| Temperature range | -40℃~125℃ |
| Features | N-channel open drain or CMOS |
| Application | MCU复位/电压监控 |
| Power consumption | 2uA |
| 检测阈值 | 3.08V |
| 复位电平 | 低有效 |
产品详细介绍
目录
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产品概述
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CXDR7528C 系列芯片是使用 CMOS 技术开发的高精度、低功耗、 小封装电压检测芯片。检测电压在小温度漂移的情况下保持 极高的精度。客户可选择 CMOS 输出或 Open Drain 输出。
产品特点
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l 高精度：±2%
l 低功耗：2.0μA（Vin=1.5V）
l 检测电压范围：1.0V~6.0V，100mV 步进
l 工作电压范围：0.7V~8.0V
l 检测电压温度特性：±100ppm(typ.)
l 输出配置：N-channel open drain 或 CMOS
应用范围
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l 微处理器复位电路
l 存储器电池备份电路
l 上电复位电路
l 供电失效检测
l 系统电池寿命和充电电压监视。
l 窗比较器
l 波形锐化电路
技术规格书（产品PDF) 返回TOP需要详细的PDF规格书请扫一扫微信联系我们，还可以获得免费样品以及技术支持！
产品封装图
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电路原理图
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相关芯片选择指南
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|
产品名称 |
工作电压(V) |
延迟 |
静态功耗(uA) |
输出方式 |
封装形式 |
|
2.0-6.5 |
N |
8 |
单节锂电池4段电量显示 |
SOT-23-6 |
|
|
0.7-7.0 |
Y |
1.5 |
N-channel open drain or CMOS |
SOT-143 |
|
|
0.7-6.0 |
Y |
1.5 |
N-channel open drain or CMOS |
SOT-23-3 |
|
|
0.7-7.0 |
Y |
2 |
N-channel open drain or CMOS |
SOT-23-3,SOT-89-3,TO-92 |
|
|
0.7-7.0 |
N |
2 |
N-channel open drain or CMOS |
SOT-23-3 |
|
|
1.5-7.0 |
N |
4 |
N-channel open drain and CMOS |
SOT-23-5,SOT-353 |
用户评论