
CXDR75159 23V/5.5A理想二极管保护开关 | 20mΩ | TRCB反向电流阻断 | VDFN-12TL - 嘉泰姆电子
| 产品型号: | CXDR75159 |
| 产品类型: | 电压检测/复位IC |
| 产品系列: | 监控与重置 IC热插拔控制器 |
| 产品状态: | 量产 |
| 浏览次数: | 9 次 |
产品简介
技术参数
| 输入电压范围 (VIN) | 23v |
|---|---|
| 输出电压 (VOUT) | adj |
| 输出电流 (IOUT) | 5A |
| 工作频率 | 1000kHz |
| 转换效率 | 95% |
| 封装类型 | VDFN3x3-12T |
| Detection voltage | V~10417V |
| Detection accuracy | ±1.5% |
| Reset delay | 0.02ms |
| Output type | 监控与重置 IC热插拔控制器 |
| Detection direction | 上升沿/下降沿 |
| Temperature range | -40℃~125℃ |
| Features | Adjustable Soft-Start;Enable Input;OVP;SCP;UVP |
| Application | 监控与重置 IC热插拔控制器 |
| Power consumption | 1μA |
产品详细介绍
CXDR75159 23V/5.5A理想二极管保护开关
20mΩ低导通电阻 | True Reverse Current Blocking | 可编程软启动 | VDFN-12TL 3×3
产品版本:Rev 1.0 | 更新日期:2026年8月 | 型号:CXDR75159 | 封装:VDFN-12TL 3×3
技术咨询:ouamo18@jtm-ic.com 或致电 13823140578 (嘉泰姆电子)
嘉泰姆电子(JTM-IC)推出的 CXDR75159 是一款集成了理想二极管功能的高侧保护开关,专为USB-C/Thunderbolt接收端(Sink)供电和电源ORing应用设计。该器件内置20mΩ(典型值)的背靠背MOSFET,提供真正的反向电流阻断(TRCB)功能,并支持3.4V至23V的宽输入电压范围和5.5A连续电流(峰值15A,持续10ms),是USB-C电源传输(PD)应用的理想选择。
CXDR75159的理想二极管控制电路可在正向导通时保持极低的压降(典型值35mV),并在VIN低于VOUT时快速(<0.5µs)关闭MOSFET,有效防止反向电流倒灌。芯片集成可编程软启动功能,通过外部电容设置输出电压上升斜率,有效限制浪涌电流。同时提供过压保护(OVP)、过温保护(OTP)和启动短路保护(SCP),并通过FLTB开漏故障指示引脚输出故障状态。CXDR75159采用VDFN-12TL 3×3封装,结温范围-40°C至125°C,是USB-C/Thunderbolt电源传输、扩展坞和电源ORing应用的理想选择。
1. 产品概述与市场定位
随着USB-C接口在笔记本电脑、扩展坞、显示器等设备中的普及,USB-C电源传输(PD)协议对接收端(Sink)的电源保护提出了更高要求。CXDR75159作为一款高性能理想二极管保护开关,集成了低导通电阻的背靠背MOSFET和智能控制电路,为USB-C PD接收端提供完整的电源路径保护解决方案。
芯片采用真正的反向电流阻断(TRCB)技术,通过内部理想二极管控制电路实时监测VIN与VOUT之间的压差。在正向导通时,将压差调节至典型值35mV,实现接近理想二极管的低功耗特性;当检测到VIN低于VOUT时(如输入电源被拔出或电压跌落),内部MOSFET在0.5µs内快速关断,有效防止输出电容或电池向输入端倒灌电流。这种快速响应能力特别适用于USB-C PD的热插拔和电源角色快速切换场景。
CXDR75159还集成了可编程软启动功能,通过SS引脚外接电容可灵活设置输出电压上升斜率,有效限制容性负载的浪涌电流,确保系统在启动过程中的稳定性和可靠性。此外,过压保护(OVP)、过温保护(OTP)和启动短路保护(SCP)等多重保护机制,配合FLTB故障指示引脚,为系统提供全面的安全防护。该器件已通过IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-5标准测试,适用于USB-C/Thunderbolt PD接收端、扩展坞和电源ORing应用。
2. 主要特点与技术亮点
- 高电流能力:支持5.5A连续电流(15A峰值电流,持续10ms,占空比2%),满足USB-C PD应用需求。
- 低导通电阻:典型值20mΩ(VIN=20V),降低导通损耗,提高系统效率,减少发热。
- True Reverse Current Blocking(TRCB):理想二极管控制电路在正向导通时将VIN-VOUT压差调节至35mV(典型值),在反向电压超过-50mV时于0.5µs内快速关断。
- 可编程软启动:通过SS引脚外接电容(CSS)设置10%-90%上升时间,有效限制浪涌电流,计算公式:tON = (VIN/24) × (CSS/0.0023 - 100),CSS单位为nF,tON单位为µs。
- 过压保护(OVP):VIN超过24V(典型值)时,经过512µs消隐时间后关断MOSFET,FLTB引脚拉低指示故障,需通过EN切换或输入电源循环恢复(锁存模式)。
- 过温保护(OTP):结温超过140°C时关断MOSFET,FLTB引脚拉低,需通过EN切换或输入电源循环恢复(锁存模式)。
- 启动短路保护(SCP):软启动期间检测到输出电流超过短路保护电流限(随VIN-VOUT变化,3A-13A),持续380µs后关断MOSFET,64ms后自动重试。
- FLTB故障指示:开漏输出,OVP/OTP故障时拉低,TRCB和SCP故障时保持高阻态,便于系统监控。
- EN使能控制:高电平有效,EN拉低时关断MOSFET,关断电流典型值32µA。
- IEC合规:VIN和VOUT引脚具备±8kV IEC 61000-4-2静电放电能力和35V浪涌耐受能力。
3. 技术参数与电气特性
| 符号 | 参数 | 最小值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| VIN, VOUT | 输入/输出电压 | -0.3 | 28 | V |
| EN, SS, FLTB | 控制引脚电压 | -0.3 | 6 | V |
| CAP | CAP引脚电压 | -0.3 | 36 | V |
| IEC 61000-4-5 | 浪涌电压(VIN无CAP) | — | 35 | V |
| PD | 功耗(TA=25°C) | — | 1.85 | W |
| TJ | 结温 | -40 | 150 | °C |
| ESD (HBM) | 人体模型(所有引脚) | — | ±4 | kV |
| 参数 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 单位 |
|---|---|---|---|---|
| VIN 输入电压 | 3.4 | — | 23 | V |
| EN, FLTB 电压 | 0 | — | 5.5 | V |
| CAP 到 VIN 电压 | 0 | — | 5.5 | V |
| SS 电压 | 0 | — | 3 | V |
| 连续输出电流 | 0 | — | 5.5 | A |
| 峰值输出电流(10ms, 2%占空比) | 0 | — | 15 | A |
| 结温范围 | -40 | — | 125 | °C |
| 参数 | 条件 | 典型值 | 单位 |
|---|---|---|---|
| VIN 工作电压范围 | — | 3.4~23 | V |
| VIN UVLO 上升阈值 | — | 3.0 | V |
| VIN UVLO 迟滞 | — | 250 | mV |
| 输入静态电流 | IOUT=0A | 500 | μA |
| 输入关断电流 | EN=0V | 32 | μA |
| 输出漏电流 | VOUT=20V, VIN=0V, EN=0V | 32 | μA |
| 导通电阻(VIN=20V) | IOUT=1A | 20 | mΩ |
| 导通电阻(VIN=5V) | IOUT=1A | 21 | mΩ |
| EN 上升阈值 | — | 1.4 | V |
| EN 下降阈值 | — | 0.6 | V |
| OVP 保护阈值 | — | 24 | V |
| OVP 消隐时间 | — | 512 | μs |
| 理想二极管正向调节电压 | — | 35 | mV |
| 快速反向电流阈值 | — | -50 | mV |
| 快速反向延迟时间 | — | 0.5 | μs |
| 导通延迟时间 | EN上升至VOUT 10% | 8 | ms |
| 导通上升时间 | 10%-90%(CSS=5.6nF) | 1.9 | ms |
| SCP 重启时间 | — | 64 | ms |
| OTP 保护阈值 | — | 140 | °C |
| SCP 电流限(VIN-VOUT≥18V) | 软启动期间 | 3 | A |
| SCP 电流限(VIN-VOUT≤4V) | 软启动期间 | 13 | A |
4. 应用场景
- USB-C/Thunderbolt 接收端电源传输(Sink PD):为笔记本电脑、显示器等设备的USB-C PD接口提供输入保护。
- 扩展坞(Docking Stations):为多端口扩展坞提供电源路径管理和保护。
- 电源ORing应用:多路电源冗余系统,实现自动切换和反向电流隔离。
- 便携式设备:为电池充电系统提供输入过压和反向电流保护。
5. 功能框图
图1. CXDR75159 内部功能方框图
内部集成:背靠背MOSFET(20mΩ)、理想二极管控制电路(TRCB)、可编程软启动(SS)、EN使能控制、UVLO欠压锁定、OVP过压保护、OTP过温保护、SCP短路保护、FLTB故障指示输出等。
6. 典型应用电路

图2. CXDR75159 典型应用电路(USB-C接收端保护)
典型应用电路包括:VIN连接USB-C PD输入电源(3.4V-23V),VOUT连接系统负载或DC-DC转换器,VIN和VOUT各并联10μF陶瓷电容,SS引脚外接电容设置软启动时间(5.6nF典型值),EN引脚连接系统控制信号(高电平使能),FLTB引脚外接上拉电阻(10kΩ)至系统电压,CAP引脚外接1nF电容。详细元件选型请参考数据手册。
7. 引脚配置与功能描述
图3. CXDR75159 引脚配置图(VDFN-12TL 3×3封装)
12引脚 VDFN 3×3(TL)封装,底部散热焊盘(Exposed Pad)。
主要引脚包括:VIN(输入电源,双引脚)、VOUT(输出电源,双引脚)、EN(使能控制,高电平有效)、SS(软启动电容)、CAP(内部LDO去耦电容)、FLTB(开漏故障指示)、GND(地)、DNC(不连接,内部连接至VIN或EXP)、NC(无连接)、Exposed Pad(散热焊盘,需电气隔离)。
8. 工作原理与设计指导
8.1 使能控制与UVLO
CXDR75159的EN引脚为高电平有效使能控制。当VIN > VIN_UVLO(典型值3.0V)且EN > VEN_R(1.4V)时,电源路径导通。EN拉低时,内部MOSFET关断,器件进入低功耗状态(关断电流典型值32µA)。VIN低于UVLO下降阈值(约2.925V)时,电源路径自动关断。
8.2 软启动控制
芯片通过SS引脚外接电容(CSS)实现可编程软启动,控制VOUT的上升斜率,限制浪涌电流。10%-90%上升时间(tON)与CSS的关系如下:
其中CSS单位为nF,tON单位为µs。例如,VIN=20V,CSS=5.6nF时,tON≈1.9ms。软启动期间,内部MOSFET承受高应力,功率耗散为(VIN - VOUT) × IOUT,建议根据负载和输出电容选择合适的软启动时间以确保工作在MOSFET的安全工作区(SOA)内。
8.3 理想二极管与反向电流阻断(TRCB)
CXDR75159的理想二极管控制电路在正向导通时将VIN - VOUT压差调节至35mV(典型值)。当负载电流增大导致IOUT × RON > VFWD时,MOSFET完全增强,压差由IOUT × RON决定。
当VIN下降或VOUT上升导致VIN - VOUT < VFWD时,理想二极管控制电路关断MOSFET。针对快速瞬态,芯片内置快速反向电流比较器,在VIN - VOUT < VFRC(-50mV)时,0.5µs内关断MOSFET,有效防止反向电流倒灌。
8.4 启动短路保护(SCP)
软启动期间,CXDR75159持续监测输出电流。如果IOUT超过SCP电流限(Iscp),内部MOSFET关断。Iscp随VIN - VOUT变化:
- VIN - VOUT ≥ 18V:Iscp ≈ 3A
- VIN - VOUT = 10V:Iscp ≈ 10A
- VIN - VOUT ≤ 4V:Iscp ≈ 13A
如果浪涌电流持续被SCP电流限钳位超过380µs,MOSFET关断,64ms后自动重试。软启动完成后,SCP功能自动禁用。
8.5 过压保护(OVP)
VIN超过24V(典型值)时触发OVP,经过512µs消隐时间后关断MOSFET,FLTB引脚拉低指示故障(锁存模式)。需通过EN引脚切换或输入电源循环来重新使能器件。
8.6 过温保护(OTP)
结温超过140°C时,电源路径关断,FLTB引脚拉低(锁存模式)。需通过EN引脚切换或输入电源循环来重新使能。
9. 外部元件选型与布局建议
9.1 输入/输出电容
- VIN:推荐10µF陶瓷电容(X7R或X7S),靠近VIN和GND引脚放置。
- VOUT:根据负载需求选择低ESR输出电容,建议至少10µF陶瓷电容。
- CAP:1nF陶瓷电容,连接CAP与GND之间。
9.2 软启动电容
- SS引脚外接电容(CSS)设置软启动时间,典型值5.6nF,可根据应用需求调整。
- 电容值范围建议1nF-100nF(推荐X7R或COG材质)。
9.3 FLTB上拉电阻
- FLTB为开漏输出,需外接上拉电阻至1.8V-5.5V的电压轨,推荐10kΩ-100kΩ。
9.4 PCB布局
- VIN和VOUT的输入/输出电容尽量靠近对应引脚放置,减小环路电感。
- 功率路径(VIN、VOUT、DNC)走线宽而短,以降低阻抗和压降。
- Exposed Pad(EXP)为内部功率MOSFET的公共漏极节点,必须电气隔离,不应连接至地或任何其他网络。为改善散热,建议将EXP焊盘焊接至大面积电气隔离的铜箔区域,并使用多个过孔连接至内层铜箔(电气隔离)。
- SS、CAP、EN、FLTB等敏感信号走线远离功率开关节点(VIN、VOUT),避免耦合噪声。
10. 热性能信息
| 热参数 | VDFN-12TL 3×3 | 单位 |
|---|---|---|
| θJA(JEDEC标准) | 53.98 | °C/W |
| θJC | 5.25 | °C/W |
最大功耗计算(TA=25°C):PD(MAX) = (125°C - 25°C) / (53.98°C/W) = 1.85W
11. 订购信息与技术支持
CXDR75159采用VDFN-12TL 3×3封装,无铅、RoHS合规,符合IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-5标准。嘉泰姆电子提供工程样品、量产芯片及全面的技术支持,包括评估板、参考设计和FAE现场支持。
技术邮件: ouamo18@jtm-ic.com | 技术热线: 13823140578

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