CXSD61100 6A DDR终端电源同步降压转换器 | 1/2 VDDQ | 灌/拉电流 - 嘉泰姆电子

CXSD61100 6A DDR终端电源同步降压转换器 | 1/2 VDDQ | 灌/拉电流 - 嘉泰姆电子

产品型号:CXSD61100
产品类型:DC-DC转换器
产品系列:开关稳压器降压 (Buck) 转换器
产品状态:量产
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产品简介

CXSD61100 是一款6A同步降压DC-DC转换器,专为DDR内存终端供电设计,支持6A连续灌/拉电流,固定1/2 VDDQ输出,输入电压1V-6V,集成20mΩ/10mΩ MOSFET,可调频率600kHz/1MHz,支持外部跟踪、PGOOD、输出跌落实、过流/过压/过温保护,采用VQFN-20L 3.5x4封装。嘉泰姆电子提供完整方案。

技术参数

输入电压范围 (VIN)1V~6V
输出电压 (VOUT)0.6V~2V
输出电流 (IOUT)6A
工作频率1000;600kHz
转换效率95%
封装类型VQFN3.5x4-20
Topology开关稳压器降压 (Buck) 转换器
Control methodExt Vref;Resistor
Switching frequency2700kHz~3000kHz
Protection过流/过压/过温
FeaturesAdjustable Current Limit;Adjustable Frequency;COT Control;Cycle-by-Cycle Current Limit;Enable Input;Fast Transient Response;OCP;OTP;OVP;PSM;Power Good;Selectable (PSM or PWM);Stable with Ceramic Capacitor;UVP
Application开关稳压器
Operating temp-40℃~125℃
Precision±1%
Ext SyncNo
Ron HS (typ) (mOhm)20
Ron LS (typ) (mOhm)10
Iq (typ) (mA)1.1
InterfaceI2C
Current Limit (typ) (A)5.4;7.6
Number of Outputs1

产品详细介绍

CXSD61100 6A DDR终端电源同步降压转换器
1/2 VDDQ | 6A灌/拉电流 | 可调频率600kHz/1MHz

产品版本:Rev 1.0 | 更新日期:2026年8月 | 型号:CXSD61100 | 封装:VQFN-20L 3.5×4

嘉泰姆电子(JTM-IC)推出的 CXSD61100 是一款全功能6V、6A同步降压DC-DC转换器,专为 DDR内存终端(VTT)供电 应用而设计。该器件提供 6A连续灌/拉电流 能力,输出固定为 1/2 VDDQ,完美匹配DDR2/3/4内存系统的终端电源需求。芯片采用 电流模式恒定导通时间(COT) 架构,配合外部补偿,可在宽负载范围内优化瞬态响应,并实现几乎恒定的开关频率。

CXSD61100 集成了 20mΩ 高侧和 10mΩ 低侧功率MOSFET,效率最大化。器件支持 600kHz或1MHz 可选开关频率,提供多种过流限制阈值和轻载工作模式(PSM/PWM),方便设计优化。丰富的功能包括 外部跟踪启动输出软放电电源良好指示(PGOOD)输出跌落(Droop)支持,以及完善的 欠压/过压保护逐周期过流保护过温保护。该器件工作温度范围为 0°C 至 105°C,参考电压精度高达 ±1%,采用 VQFN-20L 3.5×4mm 封装,是企业级服务器、以太网交换机、路由器、存储系统、GSM基站及工业设备的理想VTT电源解决方案。

核心优势: 6A连续灌/拉电流 | 1/2 VDDQ输出 | 输入电压1V-6V | 集成20mΩ/10mΩ MOSFET | 可选频率600kHz/1MHz | 电流模式COT | 外部跟踪 | PGOOD | 输出跌落 | 过流/过压/过温保护 | VQFN-20L 3.5x4封装。

1. 产品概述与市场定位

在服务器、通信设备及工业控制中,DDR内存终端电源(VTT)需要同时提供灌电流和拉电流能力,以满足数据总线终端电阻的偏置需求。CXSD61100 作为一款 专门为DDR内存终端设计 的同步降压转换器,其核心价值在于 高电流双向能力、精确的1/2 VDDQ电压跟随和快速的瞬态响应。输入电压范围(1V-6V)可兼容多种系统供电总线,输出电压可调(0.6V-2V),但典型应用固定为VDDQ的一半。

芯片采用 电流模式COT控制,无需复杂的斜率补偿,即可实现快速负载瞬态响应,并支持全陶瓷电容输出方案。通过MODE引脚,设计者可在 600kHz或1MHz 切换频率之间选择,同时配置不同的过流限制点(5.4A或7.6A)以及轻载工作模式(省电模式或强制PWM),以适应效率与性能的平衡。CXSD61100 还支持 外部参考电压跟踪,可跟随外部电压源启动,实现系统上电时序控制。PGOOD引脚提供开漏输出,指示输出电压是否在正常范围内。此外,芯片提供 输出跌落(Droop) 功能,通过调整COMP引脚电阻可设置负载线斜率,优化系统电压定位。CXSD61100 采用 VQFN-20L 3.5×4mm 封装,底部散热焊盘有效降低热阻,是高性能DDR终端电源的理想选择。

2. 主要特点与技术亮点

6A连续灌/拉电流双向电流能力,满足DDR VTT需求
固定1/2 VDDQ输出通过外部电阻分压或直接REFIN控制
宽输入电压1V 至 6V
集成低RON MOSFET20mΩ高侧,10mΩ低侧
可选开关频率600kHz 或 1MHz
电流模式COT快速瞬态响应,无需斜坡补偿
外部跟踪与软启动支持电源时序控制
保护特性过流、过压、欠压、过温、短路
  • 双向电流能力:支持连续6A灌电流和6A拉电流,适合DDR VTT总线终端电阻的对称负载。
  • 精确输出电压:通过REFIN引脚设定,典型值为1/2 VDDQ(由外部电阻分压或外部基准提供),反馈电压精度±1%。
  • 电流模式COT控制:无需外部补偿网络,内在的固定频率特性(通过自适应导通时间实现)简化设计并提供快速响应。
  • 可编程模式:MODE引脚通过不同电阻接地,可选择轻载PSM(省电模式)或PWM(强制连续模式),同时配置开关频率和过流阈值(5.4A或7.6A)。
  • 外部跟踪启动:REFIN引脚可接外部电压源,实现输出电压跟随外部基准启动,满足系统上电时序要求。
  • 输出跌落实(Droop):通过COMP引脚外接电阻,可配置输出电压随负载电流线性下降,优化电压定位,减少输出电容。
  • 电源良好指示:PGOOD开漏输出,在输出过压、欠压、过温、使能关闭或软启动期间拉低,便于系统监控。
  • 全面保护:包括VCC欠压锁定(UVLO)、VREF欠压锁定、逐周期正/负过流限制、输出欠压保护(UVP,触发打嗝重启)、输出过压保护(OVP,强制低侧MOSFET导通并锁存)、过温保护(OTP)。

3. 典型应用电路

CXSD61100 的典型应用电路用于DDR内存终端电源,输入电压通常来自系统5V或3.3V总线,输出设定为VDDQ的一半(例如1.2V/1.35V/1.5V等)。电路包括输入电容、输出电容、功率电感、反馈分压电阻、补偿网络以及模式设置电阻。具体原理图如下所示,详细元件参数可参考数据手册推荐表。

CXSD61100 典型应用电路
图1. CXSD61100 典型应用电路(DDR VTT终端电源)

图2. CXSD61100 内部功能方框图
内部集成:高侧/低侧功率MOSFET、电流检测放大器、斜坡补偿、误差放大器、PWM比较器、恒定导通时间发生器、模式选择逻辑、软启动控制、跟踪控制、PGOOD比较器、过流/过压/欠压/过温保护逻辑等。

4. 极限参数与电气特性(设计参考)

极限参数 (Absolute Maximum Ratings)
符号 参数 最小值 最大值 单位
VIN, VCC, VBOOT-VSW 输入电压、VCC、自举电压差 -0.3 7 V
VBOOT 自举引脚电压 -0.3 14 V
SW 开关节点(连续) -2 7 V
SW (<10ns) 开关节点(瞬态) -5 10 V
EN, PGOOD 使能、PGOOD引脚 -0.3 7 V
MODE, REFIN 模式、参考输入 -0.3 3.6 V
VOUT, COMP, VREF 输出监测、补偿、基准输出 -0.3 3.6 V
PD @ TA=25°C 最大功耗(VQFN-20L 3.5x4) 3.125 W
θJA 结到环境热阻 32 °C/W
θJC 结到外壳热阻 10 °C/W
TJ 结温范围 -40 150 °C
TSTG 存储温度 -65 150 °C
ESD (HBM) 人体模型 2 kV
ESD (CDM) 充电器件模型 1 kV
推荐工作条件
参数 最小值 最大值 单位
VIN 输入电压 1 6 V
VOUT 输出电压范围 0.6 2 V
VCC 供电电压(PSM模式) 3.8 6 V
VCC 供电电压(PWM模式) 3 6 V
结温 TJ -40 125 °C
关键电气特性 (VIN=5V, TA=25°C,典型值)
参数 条件 典型值 单位
VCC 工作电压范围 PWM模式 3-6 V
VCC 静态电流 EN=高 1.1 mA
VCC 关断电流 EN=低 0.27 μA
VIN 关断电流 EN=低 0.21 μA
VCC UVLO 上升阈值 2.785 V
VCC UVLO 迟滞 120 mV
VREF 基准电压 IVREF=0 1.0 V
EN 高电平阈值 上升 2.0 V
EN 低电平阈值 下降 0.5 V
开关频率(可选) MODE 设定 600k 或 1M Hz
最小关断时间 270 ns
软启动时间 EN到95% VOUT 1.6 ms
误差放大器跨导 1.0 mA/V
低侧开关拉电流限流(谷值) 模式选择 5.4/7.6 A
低侧开关灌电流限流 -9.3 A
PGOOD 欠压故障阈值 VOUT下降 84% VREFIN
PGOOD 过压故障阈值 VOUT上升 116% VREFIN
OVP 触发阈值 VOUT上升 120% VREFIN
UVP 触发阈值 VOUT下降 68% VREFIN
过温保护阈值 关断 150 °C

5. 工作原理与设计指导

5.1 电流模式COT控制

CXSD61100 采用 电流模式恒定导通时间(COT) 控制架构。在每个周期,误差放大器将输出电压(VOUT)与参考电压(REFIN)比较,产生COMP电压。内部电流检测电路监测低侧MOSFET的谷值电流,当电感电流下降到COMP电平以下时,PWM比较器触发导通时间发生器,高侧MOSFET导通固定导通时间(由输入/输出电压和频率决定),然后关断,低侧MOSFET导通直到下一个周期。这种控制方式无需斜坡补偿,具有快速的瞬态响应和几乎恒定的开关频率。

5.2 频率选择与模式配置

通过MODE引脚外接不同电阻到GND,可选择 600kHz或1MHz 开关频率,同时配置轻载工作模式(PSM或PWM)以及过流限制值(5.4A或7.6A)。具体模式电阻值见表(参考数据手册)。PSM模式在轻载时通过跳周期提高效率,PWM模式在所有负载下保持连续导通,适合噪声敏感应用。VCC供电电压范围在PSM模式下需高于3.8V,PWM模式下高于3V。

5.3 输出电压设定与跟踪

输出由REFIN引脚电压设定,内部误差放大器将VOUT与REFIN比较。典型应用中,REFIN通过外部电阻分压从内部1V VREF获得,也可直接由外部电源驱动实现 跟踪功能。在跟踪模式下,输出电压跟随外部REFIN电压变化,实现上电时序控制。REFIN有效范围为0.6V至2V,对应VOUT 0.6V至2V。

5.4 软启动与放电

EN使能后,内部软启动电路在约1.6ms内将输出电压平滑升至设定值,限制启动浪涌电流。当EN拉低或保护触发时,输出通过内部42Ω电阻进行 软放电,避免输出残余电压。

5.5 输出跌落(Droop)功能

通过COMP引脚外接电阻(RDROOP)到VREF,可配置输出随负载电流线性下降的 电压定位。跌落电压与输出电流成正比,有助于降低对输出电容容量的要求,并改善瞬态响应。计算公式:VDROOP = (RCS × IOUT) / (RDROOP × gm),其中RCS为电流检测电阻(典型53mΩ),gm为误差放大器跨导(1mA/V)。

5.6 保护功能

  • VCC欠压锁定(UVLO):VCC低于2.785V时关断,迟滞120mV。
  • VREF欠压锁定:当VREF低于约0.88V时关断。
  • 正过流保护(OCL):逐周期检测低侧MOSFET谷值电流,超过设定值(5.4A/7.6A)时关断高侧,限制输出电流。
  • 负过流保护:当芯片灌电流时,若负电流超过-9.3A(典型),触发保护。
  • 输出欠压保护(UVP):当VOUT低于68% REFIN且持续约256μs,芯片进入打嗝模式,尝试重启。
  • 输出过压保护(OVP):当VOUT高于120% REFIN并持续10μs,强制低侧MOSFET导通,拉低输出电压,同时PGOOD锁存低电平,需VCC跌至复位阈值或EN重触发才能恢复。
  • 过温保护(OTP):结温超过150°C时关断,冷却后自动重启。

6. 基于 CXSD61100 的 DDR4 VTT 电源设计(1.2V/6A)

设计目标:为DDR4内存系统提供VTT电源,VDDQ=2.4V,VTT=1.2V,最大负载电流±6A(灌/拉),输入电压5V,要求高效率、快速瞬态响应,并具备PGOOD指示。

  • 系统配置:选用 CXSD61100,VIN=5V,VCC=5V。REFIN通过电阻分压从内部1V VREF得到0.6V(使用R1=R2=10kΩ),VOUT=REFIN=1.2V(采用非跟踪模式,直接连接REFIN到VREF分压)。MODE选择600kHz PWM模式,OCL=7.6A(模式电阻参考数据手册)。电感选用0.47μH(饱和电流>10A),输入电容22μF×2(陶瓷),输出电容4×22μF(陶瓷)+1×470μF SP电容以满足瞬态需求。COMP网络按数据手册稳定性计算(RC≈3.9kΩ,CC≈2.2nF,CP≈33pF)。
  • 效率与热设计:在5V输入、1.2V/6A输出时,典型效率约85%~90%。功耗PD ≈ (1-η) × Pout = 0.12 × 7.2 = 0.864W。VQFN封装在85°C环境下的允许功耗 (125-85)/32 ≈ 1.25W,热裕量充足。PCB上需将散热焊盘焊接至大面积地平面,并通过过孔散热。
  • 瞬态响应:电流模式COT架构提供快速响应,在负载阶跃(±5A)下,输出电压跌落可控制在±50mV以内。
  • PGOOD 使用:PGOOD引脚通过100kΩ上拉至3.3V,在输出电压稳定在±16%以内时输出高电平,用于系统上电时序控制。
设计支持: 嘉泰姆电子提供 CXSD61100 评估板、参考设计(原理图、BOM、PCB布局)及 FAE 技术支持,帮助工程师快速完成DDR终端电源设计。

7. PCB 布局建议

  • 输入电容就近放置:VIN和VCC引脚各需放置陶瓷电容,尽量靠近芯片,以抑制输入电压振铃。
  • 功率回路最小化:VIN → 高侧MOSFET → 电感 → 输出电容 → PGND 的路径应短而宽,降低寄生电阻和电感。SW节点面积尽可能小,减少EMI。
  • 反馈和补偿走线:FB(VOUT)和COMP引脚的分压电阻及补偿网络应靠近芯片,走线远离SW节点,避免噪声耦合。
  • MODE和REFIN走线:模式设置电阻和REFIN分压电阻靠近相应引脚,走线短且远离噪声源。
  • 地线分割:PGND(功率地)和GND(信号地)应单点连接,通常在散热焊盘处汇合。
  • 散热焊盘:芯片底部Exposed Pad必须焊接至PCB地平面,并通过多个过孔连接至内层地和底层,以降低热阻。

8. 订购信息与技术支持

CXSD61100 采用 VQFN-20L 3.5×4mm 封装,无铅、RoHS 合规。嘉泰姆电子提供工程样品、量产芯片及全面的技术支持,包括评估板、参考设计和 FAE 现场支持。

图3. CXSD61100 引脚封装图(VQFN-20L 3.5×4mm)
引脚1,2,3,21(散热焊盘):PGND | 4,5:VIN | 6:GND | 7:VREF | 8:COMP | 9:REFIN | 10:VOUT | 11-15:SW | 16:BOOT | 17:EN | 18:MODE | 19:PGOOD | 20:VCC

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